Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York van Nostrand Reinhold Co Ltd c1990Έκδοση: 2nd edΠεριγραφή: xxii, 368p. figΘέμα(τα):
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | Non-fiction | 621.381 548 TUR (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281782 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
|
|
|
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
|
|
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | ||
| 621.381 548 COR Digital test engineering | 621.381 548 KEC Burn-in testing | 621.381 548 LOP Advanced Techniques for embedded systems design adn test | 621.381 548 TUR Design to Test | 621.381 958 CAN Fault Diagnosis of Digital Systems | 621.381 959 2 BOW VLSI systems design for digital signal processing / | 621.381 ALL Microelectronics |
Βιβλιογραφία: σσ.357-360
