Semiconductor device modelling Christopher M Snowden (Ed.)
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: London Springer-Verlag [1989]Περιγραφή: vi, 259 p. fig. 25 cmΘέμα(τα): Ταξινόμηση DDC: - 621.381 52
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 621.381 52 S (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000097971 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Βασική Συλλογή Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
|
|
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
|
|
||
| 621.381 52 R Photoinduced defects in semiconductors | 621.381 52 R Photoinduced defects in semiconductors | 621.381 52 S Physics of semiconductor devices | 621.381 52 S Semiconductor device modelling | 621.381 52 S Solid state electronic devices | 621.381 52 S Analysis and simulation of semiconductor devices | 621.381 52 S Semiconductor devices physics and technology |
