Εξώφυλλο από Amazon.com
Failure mechanisms in semiconductor devices / E.A. Amerasekera and D.S. Campbell.
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Chichester : John Wiley & Sons, 1987.Περιγραφή: xiii, 205 σ. : εικ. ; 24 εκISBN: - 0471914347
- 621.381 5 23
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 621.381 5 AME (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000240478 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | 621.381 5 AME (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000281990 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10 Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
|
|
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
|
|
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
|
||
| 621.381 48 MOU Principles of testing electronic systems / | 621.381 48 MOU Principles of testing electronic systems / | 621.381 5 Master Handbook of 1001 Practical Electronic Circuits | 621.381 5 AME Failure mechanisms in semiconductor devices / | 621.381 5 DAV Random Testing of Digital Circuits | 621.381 5 GLA Integrated circuit engineering | 621.381 5 GLA Digital electronic circuits |
