Failure mechanisms in semiconductor devices / E.A. Amerasekera and D.S. Campbell.
Τύπος υλικού: ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Chichester : John Wiley & Sons, 1987.Περιγραφή: xiii, 205 σ. : εικ. ; 24 εκISBN:- 0471914347
- 621.381 5 23
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 621.381 5 AME (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000240478 | |
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | 621.381 5 AME (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000281990 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Βασική Συλλογή Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
621.381 5 ALE Εισαγωγή στα ηλεκτρικά κυκλώματα / | 621.381 5 ALE Εισαγωγή στα ηλεκτρικά κυκλώματα / | 621.381 5 ALE Εισαγωγή στα ηλεκτρικά κυκλώματα / | 621.381 5 AME Failure mechanisms in semiconductor devices / | 621.381 5 B CMOS circuit design, layout, and simulation | 621.381 5 B Assesing fault model and test quality | 621.381 5 B Introduction to digital circuits |