Introduction to nMOS and CMOS VLSI systems design / Amar Mukherjee.
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 013490947X
- 621.395
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 621.395 MUK (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000097961 | ||
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | 621.395 MUK (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281066 | ||
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 MUK (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000281065 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10 Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
![]() |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
||
621.395 KUN VLSI signal processing, II | 621.395 KUN VLSI array processors | 621.395 MOR Logic Circuits | 621.395 MUK Introduction to nMOS and CMOS VLSI systems design / | 621.395 RAB Digital integrated circuits | 621.395 ROY Low-power CMOS VLSI circuit design / | 621.395 SAC Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits |
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.