Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices [electronic resource] edited by Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen
Τύπος υλικού: ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer-Verlag US 2010Περιγραφή: v.: digitalISBN:- 9781441909282
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource | ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |