Applied Scanning Probe Methods III [electronic resource] Characterization edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs
Τύπος υλικού: ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: NanoScience and TechnologyΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2006Περιγραφή: v.: digitalISBN:- 9783540269106
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource | ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |