Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars [electronic resource] Papers in Honour of John P. Keeves edited by Rupert Maclean, Ryo Watanabe, Robyn Baker, Boediono, Yin Cheong Cheng, Wendy Duncan, John Keeves, Zhou Mansheng, Colin Power, J. S. Rajput, Konai Helu Thaman, Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, Njora Hungi
Τύπος υλικού:![Κιτ](/opac-tmpl/lib/famfamfam/MX.png)
- 9781402030765
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |