Εξώφυλλο από Amazon.com
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization [electronic resource] by Erik Larsson
Τύπος υλικού:
ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 29Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer 2005Περιγραφή: v.: digitalISBN: - 9780387256245
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource
|
ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |
