CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet [electronic resource] Degradation Behavior and Damage Mechanisms by Flora M. Li, Arokia Nathan
Τύπος υλικού: ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Microtechnology and MemsΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2005Περιγραφή: v.: digitalISBN:- 9783540274124
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource | ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |