Εξώφυλλο από Amazon.com
Scanning probe microscopy and spectroscopy theory, techniques and applications edited by Dawn A. Bonnell
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Wiley-VCH, Inc. 2001Έκδοση: 2nd editionΠεριγραφή: xiv, 493 p. 493 p. 24 cmISBN: - 047124824X
- 502.825
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 502.825 BON (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000046507 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 502.825 BON (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000115922 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Βασική Συλλογή Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
|
|
|
|
|
|
|
||
| 502.82 PRO Procedures in scanning probe microscopies / | 502.82 ROS Fluorescence microscopy | 502.825 BON Scanning probe microscopy and spectroscopy | 502.825 BON Scanning probe microscopy and spectroscopy | 502.825 G Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis | 502.825 MEY Scanning probe microscopy | 502.825 SAR Exploring scanning probe microscopy with Mathematica |
Includes bibliographical references and index
