Testing semiconductor memories : theory and practice / A.J. van de Goor.

Κατά:

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Chichester ; New York : J. Wiley & Sons, 1991.Περιγραφή: xxiii, 512 σ. : εικ. ; 24 εκISBN:

Θέμα(τα):

Ταξινόμηση DDC:

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή	621.381 52 GOO (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		025000310745

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.

Κοινοποίηση