Εξώφυλλο από Amazon.com
Process and device modeling for integrated circuit design : [proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Process and device modeling for integrated circuit design, Louvain-la-Neuve, Belgium, July 19-29, 1977] / edited by Fernand van de Wiele, Walter L. Engl. Paul G. Jespers.
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΣειρά: NATO ASI series. Applied sciences ; 21.Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Leyden : Noordhoff, 1977.Περιγραφή: ix, 867 σ. : εικ. ; 25 εκISBN: - 902860667X
- 621.381 5 23
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [Not For Loan]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-no.png "Book [Not For Loan]")
Book [Not For Loan]
|
ΒΚΠ - Πατρα Πληροφοριακό Αναγνωστήριο | Π/Σ 621.381 5 NAT (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Δε δανείζεται | 025000113639 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Πληροφοριακό Αναγνωστήριο Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
|
|
|
|
|
|
|
||
| Π/Σ 621.38 NAT Communication systems and random process theory : | Π/Σ 621.381 21 MOL Molecular electronics II / | Π/Σ 621.381 5 NAT Multicomponent and multilayered thin films for advanced microtechnologies : | Π/Σ 621.381 5 NAT Process and device modeling for integrated circuit design : | Π/Σ 621.381 52 NAT Superconductor applications : | Π/Σ 621.381 52 NAT Solid state imaging : | Π/Σ 621.381 520 28 ΝΑΤ Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices / |
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
