Atom probe field ion microscopy M. K. Miller, A. Cerezo, M. G. Hetherington, G. D. W. Smith

Κατά:

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Monographs on the physics and chemistry of materials ; 52Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Oxford Clarendon Press 1996Περιγραφή: xi, 509 p. fig., tab. 24 cmISBN:

Θέμα(τα):

LOC classification:

Ελλιπή περιεχόμενα:

Includes appendix . - references . - index

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	Φυσικό	539.72 MIL (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		025000023553

Προηγούμενο					Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη	Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη		Επόμενο
Προηγούμενο	539.72 LEO Particle physics	539.72 MAR Particle physics	539.72 MAR Elementary particle theory	539.72 MIL Atom probe field ion microscopy	539.72 MOR Recent developments in particle physics :	539.72 MPI Basic questions in elementary particle physics.	539.72 NEE The particle hunters	Επόμενο

Includes appendix . - references . - index

Κοινοποίηση