Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems Bruno Ciciani

Κατά:

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Los Alamitos, California IEEE Computer Society Press 1995Περιγραφή: x, 437 p. fig. 28 cmISBN:

Θέμα(τα):

Ταξινόμηση DDC:

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή	621.395 C (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		025000000439

Includes references

Κοινοποίηση