Εικόνα εξωφύλλου από Amazon
Εξώφυλλο από Amazon.com
Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Point defects in semiconductors II experimental aspects Νικηφόρου Βρεττάκου

Κατά: Συντελεστής(ές): Τύπος υλικού: ΚείμενοΚείμενοΣειρά: Springer series in solid state sciences ; 35Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Berlin Heidelberg Springer - Verlag 1983Περιγραφή: xvi, 295 p. fig. 23 cmISBN:
  • 3540115153
Θέμα(τα):
Ελλιπή περιεχόμενα:
Includes references, subject index
Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου Τρέχουσα βιβλιοθήκη Ταξιθετικός αριθμός Αριθμός αντιτύπου Κατάσταση Ημερομηνία λήξης Ραβδοκώδικας
1 Διαθέσιμο

With a foreword by G. D. Watkins

Includes references, subject index

Πανεπιστήμιο Πατρών, Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης, 265 04, Πάτρα
Τηλ: 2610969621, Φόρμα επικοινωνίας
Εικονίδιο Facebook Εικονίδιο Twitter Εικονίδιο Soundcloud