Recent advances in life-testing and reliability edited by N. Balakrishnan
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0849389720
- 620.004 4
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 620.004 4 B (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000071082 | |
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα | 620.004 4 B (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000073606 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | ||
620.004 202 855 36 ΣΑΡ Τεχνικό σχέδιο με Autocad : | 620.004 202 855 36 ΣΑΡ Τεχνικό σχέδιο με Autocad : | 620.004 4 B Recent advances in life-testing and reliability | 620.004 4 B Recent advances in life-testing and reliability | 620.004 4 P Instrumentation and measurement technology and applications | 620.004 4 REY Test and evaluation of complex systems / | 620.004 4 ΡΕΠ Ανίχνευση και διάγνωση σφαλμάτων με εφαρμογές σε μικροηλεκτρονικά συστήματα |
A volume in honor of Alonzo Clifford Cohen, Jr.
Includes references