Testability concepts for digital ICs

Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach - Dordrecht Kluwer Academic Publishers c1995 - ix,212p. fig

bibl.references:pp.197-205

0 7923 9658 8


Έλεγχος
Δοκιμές
ΕΠΕΑΕΚ
Πανεπιστήμιο Πατρών, Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης, 265 04, Πάτρα
Τηλ: 2610969621, Φόρμα επικοινωνίας
Εικονίδιο Facebook Εικονίδιο Twitter Εικονίδιο Soundcloud