Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Lee, Jay

Statistical analysis with ArcView GIS / Jay Lee, David W.S. Wong. - New York : John Wiley and Sons, c2001. - xi, 192 σ. ; εικ., πιν. ; 25 εκ.

ISBN: 0471348740

Subjects--Topical Terms:
Γεωγραφικά συστήματα πληροφοριών

Dewey Class. No.: 910.285