Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Butler, Kenneth M.

Assesing fault model and test quality Kenneth M. Butler and M. Ray Mercer - Boston Kluwer Academic Publishers 1992 - xviii, 132 p. fig. 24 cm - Kluwer international series in engineering and computer science 257 .

Includes bibliography and index

ISBN: 0792392221

Subjects--Topical Terms:
Ηλεκτρονικά κυκλώματα
Ψηφιακά κυκλώματα
Ψηφιακά ηλεκτρονικά

Dewey Class. No.: 621.381 5