Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Image processing and pattern recognition in remote sensing II : 8-9 November, 2004, Honolulu, Hawaii, USA / Yoshifumi Yasuoka, Stephen G. Ungar, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organizations, NASA--National Aeronautics and Space Administration (USA) ... [et al.]. - Bellingham, Wash : SPIE, c2005. - viii, 128 σ. : εικ., χάρτες ; 28 εκ. - SPIE proceedings series 5657 0277-786X ; Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering 5657 . - Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering 5657 SPIE proceedings series 5657 .

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές and ευρετήριο.

ISBN: 0819456187

Subjects--Topical Terms:
Γεωεπιστήμες
Τηλεπισκόπηση

Dewey Class. No.: 550.287